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大豆表型檢測儀/系統是一款利用圖象來分析大豆表型相關性狀的檢測系統，可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數為大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。大豆育種研究中，大豆表型參數和大豆產量、品質、抗逆性等密切相關，進而獲取這些參數也顯得尤為重要，因此我們推出了大豆表型檢測儀。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的大豆研究

作物夾角莖粗測量儀是用于測量小麥、水稻、油菜等作物夾角、莖粗的專業測量儀器，可在離體或活體情況下測量小麥夾角和莖粗數據，拍照3秒即出結果，可先拍照后批量處理。儀器采用壓板和轉軸柄一體式連接，方便固定作物莖部，減少風吹草動對作物角度拍攝的影響。

TPS-BX-1水稻表型檢測儀/系統可測量水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、穗長、水稻劍葉夾角、莖粗、水稻株高、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗對應的穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標，這些表型參數為水稻品種篩選、水稻產量預測、稻穗動態發育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發揮著至關重要的作用。

玉米表型檢測儀/系統不僅可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標，這些高通量表型參數為玉米品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。

TPM-BX-1小麥表型檢測儀/系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標，這些表型參數為小麥品種篩選、小麥產量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發揮著至關重要的作用。